GM328A LCD testeur de transistor Diode ESR metre PWM generateur d’onde carree Module soude

Description

. English User Manual: Click to open La description: Testeur de transistors multifonction pour la detection automatique des transistors NPN et PNP, canal N, canal P, MOSFET et JFET, diodes, double diode, thyristor, identification automatique du brochage du transistor. Il peut egalement etre utilise pour la mesure de frequence et le generateur de signaux PWM. Caracteristiques: Type: Testeur assemble Affichage: 1,8 pouces 160 * 128 LCD Tension d'entree: DC 6.8V-12V Courant de fonctionnement: environ 30 mA, mesure lors de l'entree d'une tension CC de 7,5 V Mesure de resistance: Max. 50 MO Resolution de resistance: 0,01O Mesure de capacite: 25pF ~ 100mF Resolution de capacite: 1pF Mesure d'inductance: 0,01 mH ~ 20 H Taille du PCB: 7,5 x 6 cm / 2,95 x 2,36 pouces Poids du produit: 50 Taille du colis: env. 10 x 7 x 2 cm / 3,94 x 2,75 x 0,8 pouces Poids du paquet: 53g / 1,9 oz Fonctionnalites: 1. Le processeur utilise une puce ATMEAG328P DIP-28 hautes performances. Avec siege IC. 2. L'unite d'affichage utilise un affichage couleur de 160x128 pixels, le nombre de caracteres de l'ecran entier est de 8x20, la profondeur de couleur est de 16 bits, symbole de composant d'affichage graphique. 3. Commande de commutateur de code rotatif, mesure e un bouton, arret automatique. 4. Alimente par une batterie laminee 9V, il peut egalement etre alimente par un adaptateur secteur. Le courant est d'environ 30 mA et le courant est d'environ 20 nA apres l'arret. 5. Detection automatique des transistors NPN et PNP, FET, diodes, diodes doubles, thyristors, thyristors, identification automatique de la distribution des broches du transistor ci-dessus. 6. Testez le facteur d'amplification du courant de l'emetteur commun de la triode NPN et PNP, la tension de seuil base-emetteur, le courant de fuite collecteur-emetteur e la coupure. 7. Identification des transistors Darlington par la tension de seuil base-emetteur de la triode et le facteur d'amplification de courant eleve. 8. Detectez les diodes de puissance et les diodes de protection integrees FET. 9. Testez la tension de seuil d'activation grille-source du FET, la resistance e l'etat passant drain-source, la capacite grille-source. 10. Il peut mesurer jusqu'e 2 resistances e la fois, de sorte que les resistances reglables des trois pieds peuvent egalement etre mesurees. Si la resistance reglable est ajustee au point final, une seule valeur de resistance peut etre mesuree. 11. Pour les condensateurs superieurs e 90 nF, la resistance serie equivalente (ESR) est mesuree en meme temps. La resolution de la resistance serie equivalente est jusqu'e 0,01O. 12. Pour les condensateurs superieurs e 5000 pF, le taux de chute de tension apres la charge est egalement affiche. Cette valeur peut refleter le facteur de qualite (valeur Q) du condensateur. 13. Mesurez jusqu'e deux diodes e la fois, en montrant leur tension positive et negative. 14. Le LED est egalement represente comme un symbole graphique de la diode, et sa tension de mise sous tension est beaucoup plus elevee que celle d'une diode normale. 15. Une diode Zener avec une tension de claquage inverse inferieure e 4,5 V peut egalement etre detectee et affichee sous forme de symbole e double diode. Les peles positif et negatif ont un symbole de diode avec une tension de mise sous tension d'environ 700 mV, et la tension de mise sous tension correspondant e l'autre symbole de diode est une valeur regulee. Ne mesurez donc pas une diode normale et une diode Zener simultanement. 16. Lors du test d'une seule diode, la capacite de jonction inverse de la jonction PN est testee en meme temps. La capacite de jonction PN du transistor peut egalement etre testee. A ce moment, seuls la base et l'emetteur du transistor, ou la base et le collecteur peuvent etre places en meme temps. 17. Les condensateurs inferieurs e 25pF peuvent egalement etre testes. Ce type de test necessite un condensateur 30pF. Testez d'abord le condensateur 30pF. Mesurez ensuite le condensateur e tester en parallele et mesurez e nouveau. Soustrayez la valeur mesuree du condensateur 30pF. 18. Mesurez l'inductance simultanement pour des resistances jusqu'e 2100O, mesurant de 0,01mH e 20H. 19. Le processus de test prend environ 2 secondes et les gros condensateurs et inductances prennent plus de temps. 20. La plage de mesure de frequence va de 1 Hz e 1 MHz ou plus. Lorsque la frequence mesuree est inferieure e 25 kHz, la periode peut etre affichee avec une resolution de 0,001 MHz. 21. Mesure de tension continue jusqu'e 50V. 22. Sortie d'un signal d'onde carree de canal, plusieurs options de frequence sont disponibles, la frequence de sortie la plus elevee est de 2 MHz. 23. Sortie e frequence fixe d'un canal, signal d'impulsion de cycle de service reglable (PWM), ajustement du cycle de service de 1% e 99%. 24. Fonction de test de capacite separee, la methode de test est une mesure continue. Pour les condensateurs 2uF-50mF, il peut etre directement mesure dans son circuit. (Le circuit oe se trouve le condensateur mesure doit etre mis hors tension et le condensateur mesure doit etre completement decharge.) 25. Les thyristors et thyristors ne peuvent reconnaetre que leurs broches et doivent egalement tester le thyristor ou le thyristor avec moins de courant de declenchement que le testeur peut fournir. Le testeur ne peut fournir que jusqu'e 6 mA de courant de declenchement. 26. Le decodage et l'encodage de la telecommande infrarouge prennent en charge le format d'encodage des puces TC9012 et upD6121 Re r: Avant de mesurer la capacite, le condensateur doit etre decharge, sinon tres probablement endommager le compteur. Assurez-vous de debrancher l'alimentation de la carte de circuit imprime lors du test des composants sur la carte de circuit imprime, l'equipement de test a une tension residuelle n'est pas autorisee. Le forfait comprend: 1 x testeur de transistor 1 x logement